R??ntgenpulverdiffraktometrie: Rechnergest??tzte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse und Strukturbestimmung

Autor: Rudolf Allmann Verlag: Springer Taschenbuch Auflage: 2. Aufl. 2002 Seiten: 292 ISBN-10: 3-540-43967-6 ISBN-13: 978-3-540-43967-7 ISBN: 3540439676 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen

Die Beugung von Röntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern PCs und von schnelleren Detektoren hat in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten geführt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird außerdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegenüber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausführlicher behandelt. TOCRöntgenstrahlen.- Erzeugung von Röntgenstrahlen.- Nachweis.- Absorption.- Beugung.- Kristalle.- Kristallgitter.- Miller'sche Indizes und Netzebenenabstände.- Das reziproke Gitter.- Symmetrie und Kristallklassen.- Verbotene Reflexe.- Messung von Pulverdiagrammen.- Elektronisch registrierende Diffraktometer.- Messungen unter Druck, bei hohen und tiefen Temperaturen.- Von der Rohdatei zur Reflexdatei.- Manuelle und digitale Auswertung.- Einsatz der Reflexliste DIF-Datei.- Phasenidentifizierung unter Verwendung der PDF-Datei.- Phasenbestimmung mit dem PC.- Einsatz der Rohrdatei.- Phasensuche.- Profilanalyse.- Berechnete Pulverdiagramme.- Rietveldmethoden. Quelle: