Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen: Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde

	Autor: Hans Eigler Verlag: Expert-Verlag Taschenbuch Auflage: 1., Aufl. Seiten: 372 ISBN-10: 3-8169-2159-0 ISBN-13: 978-3-8169-2159-2 ISBN: 3816921590 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen