Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene

	Autor: Wolfgang Eisenmann Verlag: Shaker Verlag Taschenbuch Auflage: Seiten: 131 ISBN-10: 3-8265-1602-8 ISBN-13: 978-3-8265-1602-3 ISBN: 3826516028 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen