Zur Herstellung und elektrischen Charakterisierung von Gate-Oxiden auf Siliziumkarbid

	Autor: Elard Gottfried Stein von Kamienski Verlag: Shaker Verlag Taschenbuch Auflage: Seiten: 158 ISBN-10: 3-8265-2030-0 ISBN-13: 978-3-8265-2030-3 ISBN: 3826520300 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen