Korrelation zwischen Mikrostruktur und elektrischem Widerstand in flüssigphasengesintertem Siliciumcarbid untersucht mittels Transmissionselektronenmikroskopie

	Autor: Frank Siegelin Verlag: Utz, Herbert Taschenbuch Auflage: 1., Aufl. Seiten: 134 ISBN-10: 3-8316-0192-5 ISBN-13: 978-3-8316-0192-9 ISBN: 3831601925 Preis: Preis und Verfügbarkeit anzeigen weitere Infos | Rezensionen | kaufen